檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "謝仁偉".ccommittee (精準) and ckeyword.raw="三階儲存單元"
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由於快閃記憶體具有有限的P/E cycles,因此超過快閃記憶體單位限制的P/E cycles後會出現嚴重的可靠性問題,主要原因是快閃記憶體單元中的寫穿(wear-out)現象,受到該現象的影響下,…